在工業中的危害：靜電的產生在工業生產中是不可避免的，其造成的危害主要可歸結為以下兩種機理：
1、靜電放電(ESD)造成的危害：引起電子設備的故障或誤動作，造成電磁干擾。
2、擊穿集成電路和精密的電子元件，或者促使元件老化，降低生產成品率。
3、高壓靜電放電造成電擊，危及人身安全。
4、在多易燃易爆品或粉塵、油霧的生產場所極易引起爆炸和火災。
5、靜電引力(ESA)造成的危害：電子工業：吸附灰塵，造成集成電路和半導體元件的污染，大大降低成品率。
6、靜電對LED燈珠的危害，因瞬間的電場或電流產生的熱，使LED燈珠局部受傷，表現為漏電流迅速增加，仍能工作，但亮度降低(白光將會變色)，壽命受損。
7、因電場或電流損壞LED燈珠的絕緣層，導致LED燈珠出現損壞，無法工作，主要表現為死燈。
靜電測試方法：
般情況下，靜電測試分為兩種方式，一種為接觸靜電測試，另-一種是非接觸靜電測試，通常電子元器件的接觸防靜電電壓值要低于非接觸防靜電電壓值。工業防靜電標準:接觸防靜電電壓6kV,非接觸防靜電電壓8kV.
靜電測試前的準備工作:
連接好準備測試的設備，確保測試前的設備是正常運行的。
連接好靜電放電測試儀，確保測試儀的地線與設備的地線相互連接，形成放電回路。
接觸式靜電
測試項目包括設備機箱外殼，電源接口，控制接口，以及通訊接口等。
測試電壓標準，測試靜電電壓從2kV開始增加，每次增加2kV，直到20kV為止，即測試靜電電壓分別為2kV,4kV, 6kV, 8kV, 10kV, 12kV, 14kV, 16kV, 18 kV, 20kV。測試頻率標準，測試放電分為兩種頻率，但放電次數均為10次。一種頻率是1秒鐘放電1次，連續放電10次，為低頻靜電放電測試;另-種頻率是0.1秒鐘放電1次，連續放電10次，為高頻靜電放電測試。測試通過標準，硬件無任何損壞，通訊正常，數據無錯誤，丟失等情況。測試停止標準，在測試某一項目時，如果硬件發生損壞，通訊異常或其他任何不正常的情況，測試將不向更高標準進行，而只統計當前測試結果。測試轉為下一項。為提高測試精度，也可以在測試設備出現異常情況時，先調低靜電電壓1kV進行測試，如果測試通過,則調高靜電電壓0.5kV進行測試，如果測試不通過，則繼續調低靜電電壓0.5kV進行測試，依次類推，調節幅度不斷減小為0.25kV, 0.125 kV等，直到精度達到要求為止，統計臨界靜電電壓測試結果，
測試順序標準，測試順序為先確定電壓，再確定頻率。電壓由低到高，頻率由慢到快。即依次為2kV低頻測試，2kV高頻測試，4kV低頻測試，4kV高頻測試，直到20kV低頻測試，20kV高頻測試。在提高精度測試過程中也同樣遵循先確定電壓，再確定頻率這一原則測試數據標準，測試某一項目時，在某一電壓和頻率下，如果連續20次測試通過，即判定在當前狀態下，系統工作正常:否則統計連續20次測試過程中出錯的次數，計算出錯的概率，填入測試數據報表中。測試方法標準，先將靜電槍對準被測試項目(如:機箱，各個接口)，移動靜電槍至被測試項目的表面，要求靜電槍與被測試項目的表面保持垂直且接觸，扣動靜電槍扳機，待10次放電全部結束后，松開靜電槍扳機，將靜電槍從被測試項目表面移開，準備下一次測
非接觸式靜電：
測試項目包括設備機箱外殼，電源接口，控制接口，以及通訊接口等。
測試電壓標準，測試靜電電壓從2kV開始增加，每次增加2kV,直到20kV為止，即測試靜電電壓分別為2kV,4kV, 6kV, 8kV, 10kV, 12kV, 14kV, 16kV, 18 kV, 20kV.測試通過標準，硬件無任何損壞，通訊正常，數據無錯誤，丟失等情況。
測試停止標準，在測試某一項目時，如果硬件發生損壞，通訊異常或其他任何不正常的情況，測試將不向更高標準進行，而只統計當前測試結果。測試轉為下一項。為提高測試精度，也可以在測試設備出現異常情況時，先調低靜電電壓1kV進行測試，如果測試通過，則調高靜電電壓0.5kV進行測試，如果測試不通過，則繼續調低靜電電壓0.5kV進行測試，依次類推，調節幅度不斷減小為0.25kV, 0.125 kV等，直到精度達到要求為止。
測試順序標準，測試順序為電壓由低到高。即依次為2kV測試，4kV測試,6kV測試，直到20kV測試。測試數據標準，測試某--項目時， 在某--電壓下，如果連續20次測試通過，即判定在當前狀態下，系統工作正常;否則統計連續20次測試過程中出錯的次數，計算出錯的概率，填入測試數據報表中。測試方法標準，先將靜電槍對準被測試項目(如:機箱，各個接口)且相隔5厘米以上，扣動靜電槍扳機，移動靜電槍靠近被測試項目的表面，移動過程中要求靜電槍與被測試項目的表面保持垂直，待空氣放電結束后，將靜電槍從被測試項目表面移開，松開靜電槍扳機，準備下一次測試。
注意:1.測試過程中，某元器件測試結果會因為元器件個體差異而有所不同，如保險，二極管等，這就需要對不同的元器件進行多次測量，求出所有元器件測試結果的平均值作為最終的測試結果。
測試過程中，一般情況下，不能直接對芯片進行靜電放電。如有特殊需要，一定要對某芯片進行靜電放電測試時，應盡量減小每次靜電增加的幅度，這樣可以更好的測試出防靜電電壓真實值的接近值，使測試更加準確。
測試過程中，為保障測試結果的準確性，每次靜電放電結束后到下次靜電放電開始前的時間間隔不能太小，要留給系統足夠的恢復時間，即要留夠系統電荷釋放的時間，時間間隔一般為10秒鐘。待系統電荷充分釋放后,才能進行下一次測試。
參考標準：
☆電子產品防靜電放電控制手冊GJB/Z105-98☆電子工業用合成纖維防靜電綢性能及試驗方法SJ/T11090-1996☆防靜電鞋、導電鞋技術要求GB4385—1995☆電子產品制造防靜電系統測試方法SJ/T10694-96☆ 電子元器件防靜電要求QJ1693-89☆防靜電操作系統技術要求QJ1950-90☆ 防靜電安全工作臺技術要求QJ2177-91☆ 靜電測試方法QJ1875-90☆ 防靜電操作系統通用規范QJ2846-96☆ 電子元器件制造防靜電技術要求SJ/T10630-95☆ 電子設備制造防靜電技術要求SJ/T10533-94☆ 《靜電敏感器件使用規則》宣貫材料Q/W293-92-2☆ 電子計算機機房施工及驗收規范SJ/T30003-93☆ 通訊設備靜電防護通則YD/T754-1995☆ 靜電敏感器件使用規則Q/W293-92☆ 電子儀器和設備靜電要求QJ2245-92☆ 半導體器件使用規則QJ2225-92☆ 集成電路防靜電包裝管SJ/T10147-91☆ 通信機房靜電防護通則YD/T754-95☆ 信息技術設備靜電放電敏感度試驗SJ20154-92☆ 電火工品生產防靜電安全規程WJ1912-90☆ 防靜電周轉容器通用規范SJ/T11277-2002☆ 防靜電活動地板通用規范SJ/T10796-2001☆ 防靜電貼面板通用規范SJ/T11236-2001☆ 地板覆蓋層和裝配地板靜電性能的試驗方法SJ/T11159-98
最新認證培訓參考標準
國際標準 IEC61340-5-1:2007
美國標準ANSI/ESDS20.20-2007
中國標準GJB3007-2009
行業標準SJ/T10694-2006(中國行業標準FLOMCESD 標準)
就認證標準而言，目前歐美流行的ESD體系有IEC、EIA、ESDA以及IPC四大類，其中IPC的ESD標準實際上是ESDA和EIA標準的引用，所以嚴格意義上流行的體系是三類。
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